DMT-10-2B2-30， DMT-10-3D2-30，DMT-10-3C2-30作为一个例子，可以是，第1磁传感器110检测第1轴向的磁气，第2磁传感器120检测与第1轴不同的第2轴向的磁气，第3磁传感器130检测与第1轴和第2轴正交的第3轴向的磁气。第1磁传感器110、第2磁传感器120以及第3磁传感器130将与磁检测结果相对应的电压信号向ic芯片200输出。

ic芯片200处理来自磁传感器芯片100的信号，给予磁传感器芯片100校准磁场，对磁传感器进行灵敏度调整。例如，ic芯片200具有对磁传感器芯片100的1个以上的磁传感器进行灵敏度调整的灵敏度调整部202和处理来自磁传感器芯片100的信号的信号处理部204。

灵敏度调整部202包括ac磁场发生电路206和分别与磁传感器芯片100的1个以上的磁传感器相对应地设置的1个以上的线圈(例如第1线圈210、第2线圈220以及第3线圈230)。

ac磁场发生电路206将极性不同的校准电流依次施加于各线圈。例如，ac磁场发生电路206相对于各第1线圈210、第2线圈220以及第3线圈230赋予ac校准电流，由此，使第1线圈210、第2线圈220以及第3线圈230产生ac校准磁场。由此，各第1磁传感器110、第2磁传感器120以及第3磁传感器130检测各ac校准磁场，将与磁检测结果相应的ac电压信号向信号处理部204输出。

像后述那样，可以是，第1线圈210和第2线圈220被赋予共通的电流，同时产生校准磁场。或者也可以是，第1线圈210和第2线圈220被独立地赋予电流，独立地产生校准磁场。

DMG-01-2D8A-10 DMG-01-2D9A-10  DMG-01-2D10A-10 DMG-01-2D2B-10

DMG-01-2D3B-10 DMG-01-2D4B-10  DMG-01-2D40B-10 DMG-01-2D5B-10

DMG-01-2D6B-10 DMG-01-2D60B-10 DMG-01-2D7B-10  DMG-01-2D8B-10

DMG-01-2D9B-10 DMG-01-2D10B-10 DMG-01-2D11B-10 DMG-01-2D12B-10

DMG-01-3C2-10  DMG-01-3C3-10 DMG-01-3C4-10  DMG-01-3C40-10

DMG-01-3C5-10  DMG-01-3C6-10 DMG-01-3C60-10 DMG-01-3C7-10

DMG-01-3C8-10  DMG-01-3C9-10 DMG-01-3C10-10 DMG-01-3C11-10

DMG-01-3C12-10 DMG-01-3D2-10 DMG-01-3D3-10  DMG-01-3D4-10

DMG-01-3D40-10 DMG-01-3D5-10 DMG-01-3D60-10 DMG-01-3D7-10

DMG-01-3D8-10  DMG-01-3D9-10 DMG-01-3D10-10 DMG-01-3D11-10

DMG-01-3D12-10 DMG-03-3C2-50 DMG-03-3C3-50  DMG-03-3C4-50

DMG-03-3C40-50 DMG-03-3C5-50 DMG-03-3C6-50  DMG-03-3C60-50

DMG-03-3C7-50  DMG-03-3C9-50 DMG-03-3C10-50 DMG-03-3C11-50