关于德国JOYNER机械阀的使用说明

芯片的高低温测试装置，能够通过变温器直接改变待测试的芯片的温度，无需对不需要进行高低温测试的其他线路进行降温或升温处理，从而防止因芯片的外接部件的数目逐渐增加，导致高低温测试装置的占用空间也需随之变化等情况的发生，进而降低了芯片高低温测试时过程的复杂程度以及测试成本。此外，由于本公开提供的芯片的高低温测试装置还能够通过电压控制器根据第一变温面的温度，控制变温器的输入端输出电压的大小，进而能够实现自动将第一变温面的温度保持在预期温度，无需人为调控，从而节省人力资源。

12、根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。

1.一种芯片的高低温测试装置，其特征在于，所述高低温测试装置包括：变温器，以及电压控制器；其中，所述变温器的输入端与所述电压控制器的输出端电性连接，所述变温器包括：第一变温面以及第二变温面；在所述变温器工作的情况下，所述第一变温面的温度低于所述第二变温面的温度；

2.根据权利要求1所述的高低温测试装置，其特征在于，所述变温器包括半导体制冷器。

3.根据权利要求1所述的高低温测试装置，其特征在于，所述变温器包括：

4.根据权利要求1所述的高低温测试装置，其特征在于，所述变温器还包括：

5.根据权利要求1所述的高低温测试装置，其特征在于，所述电压控制器还用于在所述第一变温面的温度达到预设温度的情况下，停止向所述变温器的输入端输出电压。

6.根据权利要求1所述的高低温测试装置，其特征在于，所述电压控制器用于在对所述芯片进行低温测试的情况下，输出正电压至所述变温器的输入端；在对所述芯片进行高温测试的情况下，输出负电压至所述变温器的输入端。

7.根据权利要求1所述的高低温测试装置，其特征在于，所述高低温测试装置还包括：

德国JOYNER机械阀BG 311 701         

德国JOYNER机械阀BZ 311 401

德国JOYNER机械阀BV 311 301

德国JOYNER机械阀BR 311 301

德国JOYNER机械阀BL 311 301

德国JOYNER机械阀BV 311 243

德国JOYNER机械阀BR 311 243

德国JOYNER机械阀BL 311 243

德国JOYNER机械阀BV 311 202

德国JOYNER机械阀BR 311 202

德国JOYNER机械阀BL 311 202

德国JOYNER手动阀BA 311 201

德国JOYNER手动阀BA 311 202

德国JOYNER手动阀BA 311 203

德国JOYNER手动阀BA 311 243

德国JOYNER手动阀BA 311 301

德国JOYNER手动阀BA 511 201

德国JOYNER手动阀BA 511 202

德国JOYNER手动阀BA 511 301

德国JOYNER手动阀BA 430 301

德国JOYNER手动阀BA 730 301

德国JOYNER手动阀BAE311 301

德国JOYNER手动阀BH 311 401

德国JOYNER手动阀BH 320 401

德国JOYNER手动阀BH 311 701

8.根据权利要求7所述的高低温测试装置，其特征在于，所述信号检测器包括：示波器以及万用表中的至少一种。

9.根据权利要求1所述的高低温测试装置，其特征在于，所述芯片包括显示面板的显示芯片。

10.根据权利要求9所述的高低温测试装置，其特征在于，所述显示面板包括：液晶显示面板、微发光二极管显示面板、发光二极管显示面板、迷你发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、有机发光二极管显示面板、阴极射线管显示面板、数字光处理显示面板、场发射显示面板、电浆显示面板、电泳显示面板、电润湿显示面板以及小间距显示面板中至少一种。

本公开涉及一种芯片的高低温测试装置，该高低温测试装置包括：变温器，以及电压控制器；电压控制器用于根据第一变温面的温度，控制向变温器的输入端输出电压的大小；变温器用于根据输入端电压的大小控制第一变温面以及第二变温面的温度，并通过第一变温面向所述芯片以及所述电压控制器传递热量。本公开提供的芯片的高低温测试装置能够降低测试的成本以及测试装置所占用的空间。

集成芯片是现代数字集成芯片主要使用cmos工艺制造的芯片，内部设置有多组集成电路，在集成芯片的生产或者研发过程中，对于集成芯片的检测是必不可少的步骤之一。

2、在针对集成芯片的检测时，常用的检测器件为芯片测试座，起到连接集成芯片与检测电路板之间的作用，将集成芯片置于检测座内的检测槽内，使集成芯片端子插入指定的孔槽内，即可实现检测的目的，在没有测试座的情况下，则需要将芯片端子与检测电路板上的触点锡焊固定，才能进行检测任务，因此芯片测试座可以降低检测难度，提高检测效率，然而测试座主体上均会设置有一个检测槽，将芯片放置到检测槽内，同时检测槽的大小与芯片尺寸相差不大，因此在检测结束后很难徒手直接将芯片取出，且在检测过程中，检测员往往还需要佩戴手套，防止手上汗液对芯片的腐蚀损坏，因此更加难以将芯片从检测槽内取出。

1、本实用新型的目的是针对背景技术中存在的问题，提出一种便于芯片取出的集成芯片测试座。

2、本实用新型的技术方案：一种集成芯片测试座，包括检测座主体和盖板，所述检测座主体上端中心位置开设有用于集成芯片检测的检测槽，所述检测座主体上方设置有回形板，所述盖板铰接在回形板上端中心位置开口处，所述盖板底部设置有橡胶吸盘，所述橡胶吸盘位置与检测槽中心位置对齐，所述盖板内设置有带动橡胶吸盘升降的伸缩机构。

3、优选的，所述伸缩机构包括转动套和伸缩槽，所述盖板上端中心位置为凸起结构，其凸起部分外围转动连接有转动套，所述盖板中心位置开设有伸缩槽，所述伸缩槽内滑动连接有螺纹套，所述螺纹套底部与橡胶吸盘上端固定连接。

4、优选的，所述伸缩槽内转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆底部螺纹连接在螺纹套内，所述螺纹杆上端固定连接在转动套内壁中心位置。