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美国WATLOW瓦特隆SAC-220

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美国WATLOW瓦特隆MCF-K-NAT

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MCF-K-NAT 70XJTGC060A SFRJ7L-6040


SFRJ7L-6041 SFRJ6J-6042 SFRJ6C-6043


050200C2-A7K1K SSR-240-10A-DC1 PM6C1CJ-AAAABAA


C1E14-L12 DB20-60C0-0000 3-45-29-38


STPL-ALAR-ADAA

STEL-ALAG-AAAA

E3A49-AB12

2-29-25-4

E1E61-AB12

J1J38-AB12

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DB20-60C0-0000

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TLME311IKIKIKIK

PM3C1CA-AAAAAAC  

RFGA0TK034CB020

G1A83-L12

24-3-512-DIN

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J24-3-512-DIN

20CKSUC060A

SFRJ13N-6158

DB20-60F0-S000

E4A-11674

11DJSGB120D

SFMJ200A-5695

SFMJ160A-5696

DC10-40P0-0000


温控器DC10-40P0-0000(400V)

STL-MCN-0406,SEMI-ASTA-0711,COL-EH-1210,SERIES EHG SL10,SERIES EHG

MB1J1JN3、MB1J1JN4、MB1J1JP6、MB1J2AN1、MB1J2AN2、MB1N1JN3-B12

PM3C1FJ-AAAAAAA

加热棒240V C1M-6316 60W

控制器DB10-24CO-0000 24V

热电偶AFGJ0AQ100U4030

美国WATLOW瓦特隆1

在已知过程常规运行数据估计PID控制能实现的小方差是可行的;对于PID控制,使用PID能实现的小方差性能作为评价基准,评价结果更趋合理;通过拟合模型后再估计得到的PID控制器参数能够明显减小过程输出方差。 [1] 

针对控制系统进行性能监控与评估(control performance monitoring/assessment,CPM/CPA)是当今世界过程控制界受关注的研究方向之一。控制器性能监控与评估工作可追溯到20世纪六七十年代Astrom(1967)、DeVrieWu(1978)等人的工作;到1970年,由Box,Jenkins(1976)


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