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温控器DC10-40P0-0000(400V)

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美国WATLOW瓦特隆3为了解决工业系统中PID控制器由于系统时变而导致的所在控制器回路性能下降问题,浙江大学的刘小艳在Edgar提出的PID可达性评估基准的基础上,提出了一种针对PID控制器进行性能评估、优化及监控的方法,即:PID循环评估优化算法。该算法利用系统闭环输入输出数据进行滑窗在线辨识,使用基于MVC(MinimumVariance Control)的PID小方差可达性准则对PID控制器性能进行评估,并将计小方差意义下优PID控制器参数;将理论小方差与输出方差相比,作为PID系统进行在线优化的启停阈值。仿真已证明其有效性。

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